MPS-C-3X0磁體探針臺系統(tǒng)是世界上*個探針臺，能夠在被測試的器件上提供三維磁場控制。

真正*的zhuan li 設(shè)計使自旋電子器件的做晶圓級測試、納米電子和許多其他材料和器件在所需磁場中準(zhǔn)確的測試和測量。自旋流和自旋矩振蕩器測試，磁模擬和識別復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)的各向異性只是應(yīng)用我們的MPS系統(tǒng)的幾個案例。

MPS系列磁體探針臺特點(diǎn)：

• MPS系列磁體探針臺是市場上wei yi能提供在應(yīng)用磁場中對任意兩或三維定位的探針臺，是自旋電子器件的特性和自旋電子學(xué)研究的一個終的探針臺解決方案。

• MPS系列磁探針臺是wei yi在市場上提供的晶圓級別的矢量磁場探測的探針臺，特適合于在生產(chǎn)環(huán)境中自旋和磁電子器件測試。

• MPS系列磁體探針臺*可定制的，基于開源的LabVIEW的控制軟件，很容易與較常見的測試和測量設(shè)備集成。

• 高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探針的微米級定位螺釘。

• 數(shù)據(jù)收集和/或分析與廣泛的輸出格式和選項可用。

• 系統(tǒng)提供了三維霍爾探頭，以提供的穩(wěn)定性和精度所施加的磁場通過閉環(huán)控制。

可選項：

• 升級為150mm或200mm晶圓。

• 擴(kuò)展磁場均勻性/穩(wěn)定性。

• 高分辨率顯微鏡。

• 用于探測期間的域成像偏振顯微鏡。            

• 升級射頻探針            

• 擴(kuò)展溫度范圍探測          

• 相機(jī)的廣泛選擇          

• 晶片卡盤廣泛的選擇            

• 對micropositioners廣泛的選擇，探針和探針*武器           

• 超真空泵        

• 受控環(huán)境測量